单端扩频晶振
SiTime可编程扩频晶振可确保用户产品满足相关辐射标准,加快产品营收。辐射不合规(产品辐射无法满足相关标准)常常发生在产品开发的最后阶段,造成不可预见的故障排除和昂贵的生产延迟。通过扩频时钟信号和调整信号的上升、下降沿,允许设计人员(通过现场编程的方式实时)降低辐射度。
- 基本频率高达17 dB,谐波高达30 dB
- 广泛的传播范围:峰对峰率高达4%
- FlexEdge™可配置的上升/下降时间选项:转换速率为0.25 ns至40 ns
SiTime可编程扩频晶振可确保用户产品满足相关辐射标准,加快产品营收。辐射不合规(产品辐射无法满足相关标准)常常发生在产品开发的最后阶段,造成不可预见的故障排除和昂贵的生产延迟。通过扩频时钟信号和调整信号的上升、下降沿,允许设计人员(通过现场编程的方式实时)降低辐射度。
Device | Datasheet | Frequency | Stability(PPM) | Output Type | Supply Voltage(V) | Temp. Range(°C) | Package Size(mm2) |
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SIT9003 | 1MHz - 110 MHz | ±50 ±100 | LVCMOS | 1.8, 2.5, 2.8, 3.3 | -20 ~ +70 -40 ~ +85 | 2.5x2.0x0.75 3.2x2.5x0.75 5.0x3.2x0.75 | |
SIT9005 | 1MHz - 141 MHz | ±20 ±25 ±50 | LVCMOS | 1.8, 2.5 to 3.3 | -20 ~ +70 -40 ~ +85 | 2.0x1.6 2.5x2.0, 3.2x2.5 |
SiTime差分扩频晶振系列是单芯片解决方案,可替代扩频 IC 和外部晶体。差分扩频晶振包括可编程驱动强度功能,通过放慢时钟的上升和下降时间和改善时钟接收器 (RX) 下游抖动,将系统辐射电磁干扰 (EMI) 降低了 12 dB。这些特性保持全摆幅的同时驱动大容性负载。
Device | Datasheet | Frequency | Stability(PPM) | Output Type | Supply Voltage(V) | Temp. Range(°C) | Package Size(mm2) |
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SIT9002 | 1MHz - 220 MHz | ±25 ±50 | CML/HCSL/LVDS/LVPECL | 1.8, 2.5, 3.3 | -20 ~ +70 -40 ~ +85 | 5.0x3.2x0.75 7.0x5.0x0.9 |
Device | Datasheet | Frequency | Stability(PPM) | Output Type | Supply Voltage(V) | Temp. Range(°C) | Package Size(mm2) |
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SIT9025 | 1MHz -150 MHz | ±25 ±50 | LVCMOS | 1.8, 2.5 to 3.3 | -40 ~ 85 (Gr. 3) -40 ~ 105 (Gr. 2) -40 ~ 125 (Gr. 1) -55 ~ 125 (Ext. Cold Gr. 1) | 2.0x1.6 2.5x2.0, 3.2x2.5 |
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